最大测试管脚:192脚;元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试;电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹);对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储;被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大...
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最大测试管脚数:256;元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试;电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹);对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储;被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大...
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采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息.可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.·操作简单方便;内置元器件库可扩充升级;未知I...
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英国ABI-1100可编程电源逻辑电平输出通道规格:(Low voltage output for digital circuits)电压输出范围:2.5V～6V 可编程;最小调整分辨率:0.01V;过电压范围:3V～7V可编程电平阈值;最小调整分辨率:0.1V;输出电流值:5A;短路电流:7A;短...
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英国ABI-CM4000M电路板故障检测仪;V-I曲线测试功能;数字示波器功能;Active主动测试功能;FirmFlex信号强度测试功能;特点:彩色液晶显示;2路V-I曲线实时对比测试;双20路V-I曲线对比测试;40路V-I曲线存储对比测试;四个数字输入通道;双同步脉冲信号;辅助脚踏开关;USB...
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带宽: > 100MHz;采样率: 50MS/s (5GS/s ERS 模式);通道数: 2通道+外部触发通道;耦合模式: AC, DC, GND;输入阻抗: 1M Ω, 25pF;电压灵敏度: 20mV to 2V /div;电压分辨率:8 bits;最大输入电压:100VDC; 水平轴规格:扫描...
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1)产品体积小,重量轻,USB接口,适合携带;2)64路数字集成电路测试,64路V-I曲线测试,1路v-i探棒测试;3)同一器件可以在同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管管脚电压测试;4)测试库达上万种元器件,可以通过图像化的编辑器自定义测试库,可以快速...
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1)适合各种类型的测试,模拟及数字集成电路及各种分立器件的测试;2)可进行在线或离线测试与分析;3)具有24路测试通道，也可使用探棒进行巡检测试，针对各种类型的封装元件进行测试;4)安全性高的无电源测量方式，不用给电路板加电，系统自动施加各种类型的测试条件，最大可能地保证测试安全;5)多种测试类型:...
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集成电路及电路板的标准测试功能;数字及模拟集成电路的功能测试;动态及静态测试;适合单点量测;自动化测试程序;可由使用者设计的操作软件;英国ABI公司的BM8500是一个独特的多功能且易于使用的独立测试系统. 它提供了全面性电路板检测功能, 可几乎含盖了任何类型的电路板的检测能力.
无论在电路板的设计...
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内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息在测试过程中,施加必要的模拟信号到待测IC的输入端口,监测每一步骤的输出信息并将其与标准的电压值做比较,获得一个全面性的可靠的测试结果.全面的测试可确保测试结果的可靠.有条件的和无条件的循环测试模式可以准确检测到间...
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西宁包车行程计划-青海湖旅游：旅游景点1）坎布拉和李家峡水库 2）马步芳公馆 旅游景点1）青海湖 2）日月山 3)倒淌河 4）丹格尔土城 旅游景点：北山国家森林公园
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四侧无引脚扁平封装,表面贴装型封装之一.现在多称为LCC.QFN 是日本电子机械工业 会规定的名称.封装四侧配置有电极触点,由于无引脚,贴装占有面积比QFP 小,高度 比QFP 低.但是,当印刷基板与封装之间产生应力时,在电极接触处就不能得到缓解.因此电 极触点 难于作到QFP 的引脚那样多,...
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注意信号的振幅变化
确认信号经过被测器件的相移情形
确认被测器件的频率变化
确认器件反应的频率范围
功能优点
自动参数测量
在信号产生功能中可进行各项信号参数调整
自动扫频功能
可组合客制化测量接口到自动测量程序中
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使用者可设定SYSTEM 8 中的各个标准仪器功能来测试器件的电气特性. 使用者可自行定义操作接口并将其储存为一新的测试功能.功能优点
可储存及共享客制测试功能
可组合多个客制化测试功能在自动测试程序之中
快速的测试单一器件
针对特定组件设计测试方式
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“EPROM数据读取比对功能” 可读取EPROM的内容并响应档案的Checksum数值. 为什么要用此功能? 可确认同一批所有的EPROM的数据内容.读取EPROM的数据内容.可依照既有的档案来比对EPROM的数据内容.确认EPROM数据内容并非空白.功能优点.支持在线及离线测试能力.可储存所读取的...
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“数字IC识别功能” 可依照不同的器件接脚数, 来自动测试并列出符合该器件功能的IC编号. 为什么要用此功能? 可用来判定未知器件或难以判定器件所符合的功能的器件编号.列出相同功能的器件编号.针对器件进行功能测试.找出可替代的器件编号或是器件功能.可支持在线或离线测试能力. 列出所有相同功能的器...
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“逻辑时序测试功能” 是利用逻辑时序组合信号, 驱动器件或电路板的输入端口, 并自动地测量对应的输出埠的时序向量状态.
使用者可针对客制器件或整板测试来自行设计的测试时序.可设计客制化的IC时序并进行测试.可针对器件的局部进行功能测试
可针对电路板进行完整的组合测试.
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“电源供应控制功能” 提供一组逻辑电源及一组正/负可调式电源输出功能. 此功能在测试及故障查找中是不可或缺的工具.
可安全的启动被测电路板或器件. 可得知该电路板的消秏功率.
逻辑电源具有过电压跳脱功能.可调电源具有限流功能.
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“短路阻抗测量” 可提供一低电阻测量技术, 用于测量电路板上二点之间的阻抗值.
可判定线路阻抗及精准的确定电路板上短路的位置.
判定短路的位置 : 像短接的情形.
判定电源连接的位置: 可判定 Vcc/Gnd 及器件接脚
可持续的测量二点之间的阻抗 : 确定线路有无损伤
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“IC状态测量” 是利用测量IC各接脚在电路板上的状态来进行比对测试. 其中包含交流信号阻抗及接脚状态二种信息.
利用比对的方式来确认IC器件的外围的连接故障或是IC的内部问题.
确认IC器件的外围故障问题 : 断线或是开路问题
确认IC内部并未损坏.可用来进行各类型的器件量测: 未知的IC器件
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